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上海彼爱姆 15J测量显微镜
型号:15J

一、用途

15J测量显微镜是光学计量仪器之一种,它的结构简单,操作方便,适用范围极广,主要用途如下:

1.直角坐标中测定长度,例如测定孔距、基面距离、刻线距离、刻线宽度、键槽宽度、狭缝宽度、通孔外圆直径等等。

2.转动度盘测定角度,例如对刻度盘、样板、量规、钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。

3.用作观察,以比较法检查工作表面粗糙度,鉴定冶金工业的矿石标本,检定印刷照相制版,检验纺织纤维等等。

二、技术规格

1.光学系统规格

物 镜 目 镜 显微镜
放大倍数
工作距离 (mm) 视场直径(mm)
放大倍数 焦距 (mm) 放大倍数 焦距 (mm)
2.5X/0.08 43.40 10X 25.00 25X 58.84 5.6
10X/0.25 17.13 100X 7.81 1.4

2.测量工作台读数装置主要规格

X轴移动测量范围:50mm

Y轴移动测量范围:13mm

测微器分度值:0.01mm

测量台转动范围:不限

测量台刻度盘分度范围:0°~360°

测量台刻度盘之分度值:1°

测量台刻度盘游读数示值:6′

3.测量精度:

仪器示值误差:±(4+L/15 )um

仪器示值误差:包括测量误差与仪器系统误差。

注:测量地点温度变化(20±3)℃

  L-被测件长度(mm)

4.仪器之主要尺寸:

测量台与物镜间之最大距离:80mm

测量工作台直径:120mm

三、仪器成套性:

序 号 名称 单位 数量
1 主机 1
2 物镜2.5× 1
3 物镜10× 1
4 产品使用说明书 1
5 产品合格证明 1
6 产品保修卡 1

脚注信息
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